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          • 白炭黑孔徑分布測試儀
            白炭黑孔徑分布測試儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:1944

            白炭黑孔徑分布測試儀 產品概述: ◆ 測試功能:比表面積,孔結構及其他氣體吸附性能評價 ◆ 吸附質種類:各種非腐蝕性氣體測試 ◆ 測試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個分析位;
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          • 硅微粉孔徑分布測試儀
            硅微粉孔徑分布測試儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:2067

            硅微粉孔徑分布測試儀 產品概述: ◆ 測試功能:比表面積,孔結構及其他氣體吸附性能評價 ◆ 吸附質種類:各種非腐蝕性氣體測試 ◆ 測試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個分析位;
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          • 納米碳酸鈣孔徑分布測試儀
            納米碳酸鈣孔徑分布測試儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:1869

            納米碳酸鈣孔徑分布測試儀 產品概述: ◆ 測試功能:比表面積,孔結構及其他氣體吸附性能評價 ◆ 吸附質種類:各種非腐蝕性氣體測試 ◆ 測試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個分析位;
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          • 氧化鈦孔徑分布測試儀
            氧化鈦孔徑分布測試儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:1880

            氧化鈦孔徑分布測試儀 產品概述: ◆ 測試功能:比表面積,孔結構及其他氣體吸附性能評價 ◆ 吸附質種類:各種非腐蝕性氣體測試 ◆ 測試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個分析位;
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          • 硅膠孔徑分布測試儀
            硅膠孔徑分布測試儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:2111

            硅膠孔徑分布測試儀 產品概述: ◆ 測試功能:比表面積,孔結構及其他氣體吸附性能評價 ◆ 吸附質種類:各種非腐蝕性氣體測試 ◆ 測試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個分析位;
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          • 海泡石孔徑分布測試儀
            海泡石孔徑分布測試儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:2136

            海泡石孔徑分布測試儀,具有2個樣品預處理脫氣站,2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內,遠銷海外,獲得多項國內技術*,。
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          • 徑硅酸鈣分布測試儀
            徑硅酸鈣分布測試儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:1836

            徑硅酸鈣分布測試儀,具有2個樣品預處理脫氣站,2個樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內,遠銷海外,獲得多項國內技術*,。
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          • 四氧化三鐵孔徑分布測量儀
            四氧化三鐵孔徑分布測量儀

            更新時間:2024-10-24

            型號:

            瀏覽量:1880

            貝士德公司為國內*符合09 年新標準的北京科技園區(qū)*; 貝士德公司為業(yè)內Z早通過ISO9001 質量體系認證的生產性企業(yè); 貝士德公司為動態(tài)色譜法比表面儀Z高精度的創(chuàng)造者與保持者;
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